Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Time dependent variability in RMG-HKMG FinFETs: Impact of extraction scheme on stochastic NBTI., , , , , und . IRPS, Seite 3. IEEE, (2015)The defect-centric perspective of device and circuit reliability - From individual defects to circuits., , , , , , , , , und 5 andere Autor(en). ESSDERC, Seite 218-225. IEEE, (2015)Understanding the Potential and the Limits of Germanium pMOSFETs for VLSI Circuits From Experimental Measurements., , , , und . IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 19 (9): 1569-1582 (2011)Buried Silicon-Germanium pMOSFETs: Experimental Analysis in VLSI Logic Circuits Under Aggressive Voltage Scaling., , , , , , , , und . IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 20 (8): 1487-1495 (2012)A Pragmatic Model to Predict Future Device Aging., , , , , , , , , und 1 andere Autor(en). IEEE Access, (2023)A brief overview of gate oxide defect properties and their relation to MOSFET instabilities and device and circuit time-dependent variability., , , , , , , , , und 4 andere Autor(en). Microelectron. Reliab., (2018)FinFET and MOSFET preliminary comparison of gate oxide reliability., , , , , und . Microelectron. Reliab., 46 (9-11): 1608-1611 (2006)Reliability and Variability-Aware DTCO Flow: Demonstration of Projections to N3 FinFET and Nanosheet Technologies., , , , , , , , , und 10 andere Autor(en). IRPS, Seite 1-6. IEEE, (2021)Simulation Comparison of Hot-Carrier Degradation in Nanowire, Nanosheet and Forksheet FETs., , , , , , , , , und . IRPS, Seite 6. IEEE, (2022)Temperature Dependent Mismatch and Variability in a Cryo-CMOS Array with 30k Transistors., , , , , , , , , und 2 andere Autor(en). IRPS, Seite 10. IEEE, (2022)