Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Fabric Image Layering Based on Parallel K-means., , , , und . HPCC/DSS/SmartCity/DependSys, Seite 1228-1233. IEEE, (2022)Wafer Map Defect Recognition and Accurate Localization Based on Defect Completion Algorithm., , , , und . CIS-RAM, Seite 186-191. IEEE, (2023)Latent Vector Prototypes Guided Conditional Face Synthesis., , , , , , , und . ICIP, Seite 3898-3902. IEEE, (2022)PMIC: Improving Multi-Agent Reinforcement Learning with Progressive Mutual Information Collaboration., , , , , , , , und . CoRR, (2022)Surface Defect Detection Based on ResNet Classification Network with GAN Optimized., , , , , und . SmartWorld/UIC/ScalCom/DigitalTwin/PriComp/Meta, Seite 1568-1575. IEEE, (2022)Uncertainty-Aware Low-Rank Q-Matrix Estimation for Deep Reinforcement Learning., , , , und . DAI, Volume 13170 von Lecture Notes in Computer Science, Seite 21-37. Springer, (2021)PMIC: Improving Multi-Agent Reinforcement Learning with Progressive Mutual Information Collaboration., , , , , , , , , und . ICML, Volume 162 von Proceedings of Machine Learning Research, Seite 12979-12997. PMLR, (2022)PAnDR: Fast Adaptation to New Environments from Offline Experiences via Decoupling Policy and Environment Representations., , , , , , , und . CoRR, (2022)Fabric Image Layering Based on Kmeans-AP., , , , und . ICVIP, Seite 144-148. ACM, (2022)Enhancing Semiconductor Chip Image Defect Classification Using Deep Learning and Segmented Defect Region Information., , , und . CIS-RAM, Seite 204-209. IEEE, (2023)