( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Vázquez, Diego"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
A 3.6mW @ 1.2V high linear 8th-order CMOS complex filter for IEEE 802.15.4 standard.

, , , und . ESSCIRC, Seite 99-102. IEEE, (2011)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

José Vázquez

Graciela Vázquez

José Vázquez

Margarita Vázquez Navarro

Life cycle of contrails from a time series of geostationary satellite images. Uni München, (2009)

Jaime Vázquez Jiménez

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

A Low-Cost Strategy for Testing Analog Filters., , und . ISCAS, Seite 123-126. IEEE, (1994)Analog Sinewave Signal Generators for Mixed-Signal Built-in Test Applications., , und . J. Electron. Test., 27 (3): 305-320 (2011)Reducing the impact of DFT on the performance of analog integrated circuits: improved sw-op amp design., , und . VTS, Seite 42-47. IEEE Computer Society, (1996)A 1.2V 5.14mW quadrature frequency synthesizer in 90nm CMOS technology for 2.4GHz ZigBee applications., , , , , , , und . APCCAS, Seite 1252-1255. IEEE, (2008)A BIST Solution for the Functional Characterization of RF Systems Based on Envelope Response Analysis., , , , und . Asian Test Symposium, Seite 255-260. IEEE Computer Society, (2009)Practical solutions for the application of the oscillation-based-test in analog integrated circuits., , , , und . ISCAS (1), Seite 589-592. IEEE, (2002)2.4-GHz single-ended input low-power low-voltage active front-end for ZigBee applications in 90 nm CMOS., , , , und . ECCTD, Seite 829-832. IEEE, (2011)Sinusoidal signal generation for mixed-signal BIST using a harmonic-cancellation technique., , , und . LASCAS, Seite 1-4. IEEE, (2013)Design of a CMOS fully differential switched-opamp for SC circuits at very low power supply voltages., , , , , , und . ICECS, Seite 1545-1548. IEEE, (2001)Low-cost on-chip measurements for Oscillation-Based-Test in Analog Integrated Circuits., , , , und . LATW, Seite 89-93. IEEE, (2002)