,

Defect level evaluation in an IC design environment.

, , , , , и .
IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 15 (10): 1286-1293 (1996)

Метаданные

тэги

Пользователи данного ресурса

  • @dblp

Комментарии и рецензии