Autor der Publikation

Degradation and temperature analysis of voltage-controlled ring oscillators for robust and reliable oscillator designs in a 65nm bulk CMOS process.

, , , , und . MIXDES, Seite 353-358. IEEE, (2016)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Parameter identification for behavioral modeling of analog components including degradation., , , , und . MIXDES, Seite 336-340. IEEE, (2016)Stochastic LUT-based reliability-aware design method for operation point dependent CMOS circuits., , , , , und . MIXDES, Seite 363-368. IEEE, (2016)Degradation and temperature analysis of voltage-controlled ring oscillators for robust and reliable oscillator designs in a 65nm bulk CMOS process., , , , und . MIXDES, Seite 353-358. IEEE, (2016)Behavioral modeling of a sensor interface circuit including various non-idealities., , , , und . SMACD, Seite 1-4. IEEE, (2017)Online monitoring of NBTI and HCD in beta-multiplier circuits., , , , und . IOLTS, Seite 209-210. IEEE, (2016)Analysis of aging effects - From transistor to system level., , , , und . Microelectron. Reliab., (2016)Yield Approximation of Analog Integrated Circuits Under Time-Dependent Variability., , , und . SMACD, Seite 65-68. IEEE, (2018)On-line monitoring and error correction in sensor interface circuits using digital calibration techniques., , , , und . VTS, Seite 1-6. IEEE Computer Society, (2018)Temperature- and aging-resistant inverter for robust and reliable time to digital circuit designs in a 65nm bulk CMOS process., , , , und . IOLTS, Seite 121-125. IEEE, (2016)Analog behavioral modeling for age-dependent degradation of complex analog circuits., , , , und . MIXDES, Seite 317-322. IEEE, (2014)