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Layout-aware 2-step window-based pattern reordering for fast bridge/open test generation., , und . ITC, Seite 1-8. IEEE, (2017)Critical-Area-Aware Test Pattern Generation and Reordering., , und . ATS, Seite 191-196. IEEE Computer Society, (2016)Note on Fast Bridge Fault Test Generation Based on Critical Area., , und . ICA3PP (3), Volume 9530 von Lecture Notes in Computer Science, Seite 729-740. Springer, (2015)Layout-Aware Fast Bridge/Open Test Generation by 2-Step Pattern Reordering., , und . IEICE Trans. Fundam. Electron. Commun. Comput. Sci., 101-A (12): 2262-2270 (2018)