Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Direct Design of Closed-loop Demodulators for Amplitude Modulation Atomic Force Microscopy., , , und . ACC, Seite 4336-4341. IEEE, (2018)Design of Hybrid Piezoelectric/Piezoresistive Cantilevers for Dynamic-mode Atomic Force Microscopy., und . AIM, Seite 144-149. IEEE, (2018)Multi-mode resonant control of a microcantilever for Atomic Force Microscopy., , und . AIM, Seite 77-82. IEEE, (2013)2018 IEEE Transactions on Control Systems Technology Outstanding Paper Award.. IEEE Trans. Contr. Sys. Techn., 27 (2): 463 (2019)Frequency domain analysis of robust demodulators for high-speed atomic force microscopy., , , , und . ACC, Seite 1562-1567. IEEE, (2017)Design and analysis of piezoelectric cantilevers with enhanced higher eigenmodes for atomic force microscopy., , und . AIM, Seite 719-724. IEEE, (2017)On-chip atomic force microscopy: Mechatronic system design and control., , , und . ACC, Seite 3093. IEEE, (2016)Design and control of a single-chip SOI-MEMS atomic force microscope., , , und . ACC, Seite 2869-2874. IEEE, (2017)Higher-harmonic AFM imaging with a high-bandwidth multifrequency Lyapunov filter., , , und . AIM, Seite 725-730. IEEE, (2017)State estimation for high-speed multifrequency atomic force microscopy., , und . ACC, Seite 2617-2622. IEEE, (2016)