( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Tosi, Alberto"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Non-invasive testing of VLSI circuits.

. Polytechnic University of Milan, Italy, (2005)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Ugo Tosi

Alessandro Tosi

Milena Józefina Tosiek

Delia Tosi

Niccolò Tosi

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Innovative packaging technique for backside optical testing of wire-bonded chips., , und . Microelectron. Reliab., 45 (9-11): 1493-1498 (2005)Implementation of TRE systems into Emission Microscopes., , , , und . Microelectron. Reliab., 44 (9-11): 1529-1534 (2004)Time-Resolved Diffuse Reflectance Using Small Source-Detector Separation and Fast Single-Photon Gating, , , , , , , , , und 1 andere Autor(en). (2008)Emission Engineering in Germanium Nanoresonators, , , , , , , , , und 8 andere Autor(en). ACS Photonics, 2 (1): 53-59 (21.01.2015)Linear arrays of single-photon detectors for photon counting and timing., , , , , und . Sensors, Cameras, and Systems for Industrial, Scientific, and Consumer Applications, Volume 7875 von SPIE Proceedings, Seite 78750N. SPIE, (2011)0.16 µm-BCD Silicon Photomultipliers with Sharp Timing Response and Reduced Correlated Noise., , , , und . Sensors, 18 (11): 3763 (2018)Large-Area, Fast-Gated Digital SiPM With Integrated TDC for Portable and Wearable Time-Domain NIRS., , , , , , , , , und 2 andere Autor(en). IEEE J. Solid State Circuits, 55 (11): 3097-3111 (2020)A Compact Multi-Distance DCS and Time Domain NIRS Hybrid System for Hemodynamic and Metabolic Measurements., , , , , , und . Sensors, 21 (3): 870 (2021)Monolithic single-photon detectors and time-to-digital converters for picoseconds time-of-flight ranging., , , und . Sensors, Cameras, and Systems for Industrial, Scientific, and Consumer Applications, Volume 7875 von SPIE Proceedings, Seite 78750P. SPIE, (2011)Non-invasive testing of VLSI circuits.. Polytechnic University of Milan, Italy, (2005)