( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Datta, Suman"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Rf-powered systems using steep-slope devices.

, , , , , und . NEWCAS, Seite 73-76. IEEE, (2014)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Nimisha Suman

Hazem Suman

Suman Jha

Suman Baidya

Suman Sahai

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Video analytics using beyond CMOS devices., , , , , und . DATE, Seite 1-5. European Design and Automation Association, (2014)Green transistors to green architectures., und . ISLPED, Seite 429-430. ACM, (2009)Opportunties and challenges of tunnel FETs., , und . ISCAS, Seite 397-400. IEEE, (2016)Investigation of electrically gate-all-around hexagonal nanowire FET (HexFET) architecture for 5 nm node logic and SRAM applications., , , , , , und . ESSDERC, Seite 188-191. IEEE, (2017)Power and Area Efficient FPGA Building Blocks Based on Ferroelectric FETs., , , , , und . IEEE Trans. Circuits Syst. I Regul. Pap., 66-I (5): 1780-1793 (2019)A FeFET Based Processing-In-Memory Architecture for Solving Distributed Least-Square Optimizations., , , , , , , , , und 2 andere Autor(en). DRC, Seite 1-2. IEEE, (2018)A Hybrid FeMFET-CMOS Analog Synapse Circuit for Neural Network Training and Inference., , , , , und . ISCAS, Seite 1-5. IEEE, (2020)Optimization of Backside of Silicon-Compatible High Voltage Superlattice Capacitor for 12V-to-6V On-Chip Voltage Conversion., , , , , und . DRC, Seite 1-2. IEEE, (2024)Steep switching tunnel FET: A promise to extend the energy efficient roadmap for post-CMOS digital and analog/RF applications., , und . ISLPED, Seite 145-150. IEEE, (2013)The Impact of Ferroelectric FETs on Digital and Analog Circuits and Architectures., , , , , , , , , und 2 andere Autor(en). IEEE Des. Test, 37 (1): 79-99 (2020)