From post

копировать удалить добавить публикацию в буфер
Запись сообщества
посмотреть историю данной записи
URL
DOI
BibTeX
EndNote
APA
Chicago
DIN 1505
Harvard
MSOffice XML

A drift-diffusion-based analytic description of the energy distribution function for hot-carrier degradation in decananometer nMOSFETs.

P. Sharma, S. Tyaginov, S. Rauch, J. Franco, B. Kaczer, A. Makarov, M. Vexler, и T. Grasser. ESSDERC, стр. 428-431. IEEE, (2016)

Please choose a person to relate this publication to

To differ between persons with the same name, the academic degree and the title of an important publication will be displayed.

Stanislav Laznicka

Stanislav Novak

Stanislav Nastassine

Stanislav Mráz

Stanislav Pandelov

Другие публикации лиц с тем же именем

On Superior Hot Carrier Robustness of Dynamically-Doped Field-Effect-Transistors.S. Tyaginov, A. Afzalian, A. Makarov, A. Grill, M. Vandemaele, M. Cherenev, M. Vexler, G. Hellings, и B. Kaczer. IRPS, стр. 11. IEEE, (2022)Bias Temperature Instability (BTI) of High-Voltage Devices for Memory Periphery.J. Bastos, B. O'Sullivan, J. Franco, S. Tyaginov, B. Truijen, A. Chasin, R. Degraeve, B. Kaczer, R. Ritzenthaler, E. Capogreco и 7 other автор(ы). IRPS, стр. 1-6. IEEE, (2022)Modeling the Effect of Random Dopants on Hot-Carrier Degradation in FinFETs.A. Makarov, B. Kaczer, P. Roussel, A. Chasin, A. Grill, M. Vandemaele, G. Hellings, A. El-Sayed, T. Grasser, D. Linten и 1 other автор(ы). IRPS, стр. 1-7. IEEE, (2019)Temperature Dependent Mismatch and Variability in a Cryo-CMOS Array with 30k Transistors.A. Grill, V. John, J. Michl, A. Beckers, E. Bury, S. Tyaginov, B. Parvais, A. Chasin, T. Grasser, M. Waltl и 2 other автор(ы). IRPS, стр. 10. IEEE, (2022)Simulation Comparison of Hot-Carrier Degradation in Nanowire, Nanosheet and Forksheet FETs.M. Vandemaele, B. Kaczer, S. Tyaginov, E. Bury, A. Chasin, J. Franco, A. Makarov, H. Mertens, G. Hellings, и G. Groeseneken. IRPS, стр. 6. IEEE, (2022)Stochastic Modeling of Hot-Carrier Degradation in nFinFETs Considering the Impact of Random Traps and Random Dopants.A. Makarov, D. Linten, S. Tyaginov, B. Kaczer, P. Roussel, A. Chasin, M. Vandemaele, G. Hellings, A. El-Sayed, M. Jech и 1 other автор(ы). ESSDERC, стр. 262-265. IEEE, (2019)Evaluating Forksheet FET Reliability Concerns by Experimental Comparison with Co-integrated Nanosheets.E. Bury, A. Chasin, B. Kaczer, M. Vandemaele, S. Tyaginov, J. Franco, R. Ritzenthaler, H. Mertens, P. Weckx, N. Horiguchi и 1 other автор(ы). IRPS, стр. 5. IEEE, (2022)Reliability and Variability of Advanced CMOS Devices at Cryogenic Temperatures.A. Grill, E. Bury, J. Michl, S. Tyaginov, D. Linten, T. Grasser, B. Parvais, B. Kaczer, M. Waltl, и I. Radu. IRPS, стр. 1-6. IEEE, (2020)Origins and implications of increased channel hot carrier variability in nFinFETs.B. Kaczer, J. Franco, M. Cho, T. Grasser, P. Roussel, S. Tyaginov, M. Bina, Y. Wimmer, L. Procel, L. Trojman и 11 other автор(ы). IRPS, стр. 3. IEEE, (2015)Full (Vg, Vd) Bias Space Modeling of Hot-Carrier Degradation in Nanowire FETs.M. Vandemaele, B. Kaczer, S. Tyaginov, Z. Stanojevic, A. Makarov, A. Chasin, E. Bury, H. Mertens, D. Linten, и G. Groeseneken. IRPS, стр. 1-7. IEEE, (2019)

Что такое BibSonomy?: С чего начать; Кнопки для браузера; Помощь
Разработчикам: Обзор; API-документация

Контакт и защита личных данных: о нас; Cookies; Сообщить о проблеме; BibSonomy Вики

Интеграция: PUMA; Расширение для TYPO3; Плагин для; Клиент Java REST; Поддерживаемые источники; далее

О BibSonomy: Команда; Блог; Список рассылки
Социальные сети: Наш Twitter