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Disambiguierung von "Ichimiya, Masahiro"

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CMOS Open Defect Detection Based on Supply Current in Time-Variable Electric Field and Supply Voltage Application.

, , , und . Asian Test Symposium, Seite 117-122. IEEE Computer Society, (2001)

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Masahiro Ogawa

Masahiro Yoshida

Masahiro Katsura

Masahiro Niitsuma

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

CMOS open defect detection by supply current test., , , und . DATE, Seite 509. IEEE Computer Society, (2001)Electric field for detecting open leads in CMOS logic circuits by supply current testing., , , und . ISCAS (3), Seite 2995-2998. IEEE, (2005)A High-Speed IDDQ Sensor for Low-Voltage ICs., , , , und . Asian Test Symposium, Seite 327-. IEEE Computer Society, (1998)Random Pattern Testability of the Open Defect Detection Method using Application of Time-variable Electric Field., , , , und . DELTA, Seite 387-391. IEEE Computer Society, (2002)Test Pattern for Supply Current Test of Open Defects by Applying Time-Variable Electric Field., , , , und . DFT, Seite 287-. IEEE Computer Society, (2001)High speed IDDQ test and its testability for process variation., , , , und . Asian Test Symposium, Seite 344-349. IEEE Computer Society, (2000)IDDQ Sensing Technique for High Speed IDDQ Testing., , , , , und . Asian Test Symposium, Seite 111-116. IEEE Computer Society, (2001)CMOS Open Defect Detection Based on Supply Current in Time-Variable Electric Field and Supply Voltage Application., , , und . Asian Test Symposium, Seite 117-122. IEEE Computer Society, (2001)