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A No-Trim, Scaling-Friendly Thermal Sensor in 16nm FinFET Using Bulk Diodes as Sensing Elements., und . ESSCIRC, Seite 63-66. IEEE, (2019)A 28nm CMOS ultra-compact thermal sensor in current-mode technique., und . VLSI Circuits, Seite 1-2. IEEE, (2016)Dynamic voltage and frequency scaling for neuromorphic many-core systems., , , , , , , , , und 9 andere Autor(en). ISCAS, Seite 1-4. IEEE, (2017)An 8b subthreshold hybrid thermal sensor with ±1.07°C inaccuracy and single-element remote-sensing technique in 22nm FinFET., , , , und . ISSCC, Seite 318-320. IEEE, (2018)A Current-Mode Temperature Sensor with a ±1.56 °C Raw Error and Duty-Cycle Output in 16nm FinFET., und . ISCAS, Seite 1-5. IEEE, (2021)Live demonstration: Dynamic voltage and frequency scaling for neuromorphic many-core systems., , , , , , , , , und 10 andere Autor(en). ISCAS, Seite 1. IEEE, (2017)Seizure prediction with long-term iEEG recordings: What can we learn from data nonstationarity?, , , und . BIBM, Seite 1-6. IEEE, (2021)A 40nW, Sub-IV Truly 'Digital' Reverse Bandgap Reference Using Bulk-Diodes in 16nm FinFET., , und . A-SSCC, Seite 99-102. IEEE, (2018)A Low-Noise Sub-Bandgap Reference with a ±0.64% Untrimmed Precision in 16nm FinFET., und . A-SSCC, Seite 113-116. IEEE, (2019)Time-Controlled and FinFET Compatible Sub-Bandgap References Using Bulk-Diodes., , und . IEEE Trans. Circuits Syst. II Express Briefs, 66-II (10): 1608-1612 (2019)