Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Detecting NBTI induced failures in SRAM core-cells., , , , , , und . VTS, Seite 75-80. IEEE Computer Society, (2010)On the Test and Mitigation of Malfunctions in Low-Power SRAMs., , , , , und . J. Electron. Test., 30 (5): 611-627 (2014)Test solution for data retention faults in low-power SRAMs., , , , , , und . DATE, Seite 442-447. EDA Consortium San Jose, CA, USA / ACM DL, (2013)A statistical simulation method for reliability analysis of SRAM core-cells., , , , , , und . DAC, Seite 853-856. ACM, (2010)Analyzing the effect of concurrent variability in the core cells and sense amplifiers on SRAM read access failures., , , , , , und . DTIS, Seite 39-44. IEEE, (2013)Impact of Resistive-Bridging Defects in SRAM Core-Cell., , , , , , und . DELTA, Seite 265-269. IEEE Computer Society, (2010)Analyzing resistive-open defects in SRAM core-cell under the effect of process variability., , , , , , und . ETS, Seite 1-6. IEEE Computer Society, (2013)Setting test conditions for improving SRAM reliability., , , , , , und . European Test Symposium, Seite 257. IEEE Computer Society, (2010)Adaptive Source Bias for Improved Resistive-Open Defect Coverage during SRAM Testing., , , , , , und . Asian Test Symposium, Seite 109-114. IEEE Computer Society, (2013)On the reuse of read and write assist circuits to improve test efficiency in low-power SRAMs., , , , , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2013)