( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Fung, Kenneth S. M."

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Handling of multi-reflections in wafer bump 3D reconstruction.

, , , und . SMC, Seite 1558-1561. IEEE, (2008)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

M S Perzanowski

M S Khan

M S Jenny

Rahul M S

Kenneth M Dürsteler-MacFarland

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Use of Paraplanar Constraint for Parallel Inspection of Wafer Bump Heights., , , und . IPCV, Seite 157-163. CSREA Press, (2007)Optimization of Bit-Pairing Codification with Learning for 3D Reconstruction., , , , und . Int. J. Image Graph., 7 (3): 445-462 (2007)Reference-Free Machine Vision Inspection of semiconductor die Images., , , , und . Int. J. Image Graph., 9 (1): 133-152 (2009)An edge-from-focus approach to 3D inspection and metrology., , , , , , und . Image Processing: Machine Vision Applications, Volume 9405 von SPIE Proceedings, Seite 94050E. SPIE, (2015)A polynomial phase-shift algorithm for high precision three-dimensional profilometry., , , , , und . Image Processing: Machine Vision Applications, Volume 8661 von SPIE Proceedings, Seite 866102. SPIE, (2013)A novel design of grating projecting system for 3D reconstruction of wafer bumps., , , , , , und . Three-Dimensional Image Capture and Applications, Volume 6056 von SPIE Proceedings, Seite 605601. SPIE, (2006)EC-EGI: enriched complex EGI for 3D shape registration., , und . Mach. Vis. Appl., 21 (2): 177-188 (2010)Handling of multi-reflections in wafer bump 3D reconstruction., , , und . SMC, Seite 1558-1561. IEEE, (2008)An elliptic phase-shift algorithm for high speed three-dimensional profilometry., , , , , und . Image Processing: Machine Vision Applications, Volume 8661 von SPIE Proceedings, Seite 86610S. SPIE, (2013)An illumination-invariant phase-shifting algorithm for three-dimensional profilometry., , , , , , und . Image Processing: Machine Vision Applications, Volume 8300 von SPIE Proceedings, Seite 830005. SPIE, (2012)