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Disambiguierung von "Kundu, Subhadip"

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Diagnosing multiple faulty chains with low pin convolution compressor using compressed production test set.

, , , und . ITC, Seite 1-7. IEEE, (2017)

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Subhadip Chakrabarti

Arijit Kundu

Sudip Kundu

Shankhamala Kundu

Sudipta Kundu

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Particle Swarm Optimization Based BIST Design for Memory Cores in Mesh Based Network-on-Chip., , , und . VDAT, Volume 7373 von Lecture Notes in Computer Science, Seite 343-349. Springer, (2012)A Metric for Test Set Characterization and Customization Toward Fault Diagnosis., , , , und . IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 32 (11): 1824-1828 (2013)Customizing pattern set for test power reduction via improved X-identification and reordering., , , und . ISLPED, Seite 177-182. ACM, (2010)A Novel Technique to Reduce both Leakage and Peak Power during Scan Testing., , und . ICIIS, Seite 1-6. IEEE, (2008)Post-Silicon Validation and Diagnosis., und . VLSID, Seite 9-10. IEEE Computer Society, (2016)Fault diagnosis in designs with extreme low pin test data compressors., , und . DATE, Seite 1285-1288. ACM, (2015)Thermal Aware Don't Care Filling to Reduce Peak Temperature and Thermal Variance during Testing., , und . Asian Test Symposium, Seite 25-30. IEEE Computer Society, (2013)Framework for Multiple-Fault Diagnosis Based on Multiple Fault Simulation Using Particle Swarm Optimization., , , , und . IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 22 (3): 696-700 (2014)Using Custom Fault Models to Improve Understanding of Silicon Failures., , , und . ITC, Seite 348-354. IEEE, (2022)Efficient Don't Care Filling for Power Reduction during Testing., und . ARTCom, Seite 319-323. IEEE Computer Society, (2009)