J. Andersson, R. Capilla, L. Baresi, und H. Eichelberger. Proceedings of the 21st International Systems and Software Product Line Conference - Volume A, Seite 246--246. New York, NY, USA, ACM, (2017)
N. Niu, S. Easterbrook, und M. Sabetzadeh. 21st IEEE International Conference on Software Maintenance (ICSM'05), Budapest, Hungary, IEEE Computer Society, (September 2005)
T. Omori, und K. Maruyama. MSR '08: Proceedings of the 2008 international workshop on Mining software repositories, Seite 31--34. New York, NY, USA, ACM, (Mai 2008)
S. Vegas, und V. Basili. Empirical Software Engineering, 10 (4):
437-466(2005)MR: Versucht die Antwort auf die Frage zu erleichtern: Wie soll indentifiziert werden, welches Testkriteria passen am besten zu meinem Testselektionsproblem?
Bei IST-SPL könnte es zur Begründung des eingesetzten Überdeckungskriteriums herangezogen werden..
S. Angelov, P. Grefen, und D. Greefhorst. Joint Working IEEE/IFIP Conference on Software Architecture, 2009 & European Conference on Software Architecture. WICSA/ECSA 2009, Seite 141--150. IEEE, (September 2009)
M. Steves, E. Morse, C. Gutwin, und S. Greenberg. GROUP '01: Proceedings of the 2001 International ACM SIGGROUP Conference on Supporting Group Work, Seite 125-134. New York, NY, USA, ACM Press, (2001)
J. Paterson, J. Haddow, und M. Nairn. Seite 280 - 4. New York, NY, USA, (2006//)design patterns;BlueJ IDE;software design;software development;object oriented software;teaching;Java;.
B. Smith, und H. Delugach. Proceedings of the 14th International Conference on Conceptual Structures (ICCS 2006), Volume 4068 von Lecture Notes in Computer Science, Seite 401-412. Springer, (2006)
E. Valentini, G. Fliess, und E. Haselwanter. Computer Software and Applications Conference, 2005. COMPSAC 2005. 29th Annual International, 2, Seite 219 - 222 Vol. 1. (Juli 2005)