,

I/O thick oxide device integration using Diffusion and Gate Replacement (D&GR) gate stack integration.

, , , , , , , , , , , и .
ICICDT, стр. 1-4. IEEE, (2015)

Метаданные

тэги

Пользователи данного ресурса

  • @dblp

Комментарии и рецензии