Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Test Considerations about the Structured ASIC Paradigm., und . DDECS, Seite 232-233. IEEE Computer Society, (2006)Accelerated Analysis of Simulation Dumps through Parallelization on Multicore Architectures., , , , , , , und . DDECS, Seite 69-74. IEEE, (2021)A novel SEU injection setup for Automotive SoC., , , , , , , und . ISIE, Seite 623-626. IEEE, (2022)A guided debugger-based fault injection methodology for assessing functional test programs., , , , , und . VTS, Seite 1-7. IEEE, (2023)Recent Trends and Perspectives on Defect-Oriented Testing., , , , , , , , , und 11 andere Autor(en). IOLTS, Seite 1-10. IEEE, (2022)Online scheduling of concurrent Memory BISTs execution at Real-Time Operating-System level., , , , , , , und . DFT, Seite 1-6. IEEE, (2022)SW-based transparent in-field memory testing., , , und . LATS, Seite 1-6. IEEE Computer Society, (2015)Improving Stress Quality for SoC Using Faster-than-At-Speed Execution of Functional Programs., , , , , und . VLSI-SoC (Selected Papers), Volume 508 von IFIP Advances in Information and Communication Technology, Seite 130-151. Springer, (2016)An Efficient Method for the Test of Embedded Memory Cores during the Operational Phase., , , und . Asian Test Symposium, Seite 227-232. IEEE Computer Society, (2013)Cumulative embedded memory failure bitmap display & analysis., , , , , , , und . DDECS, Seite 255-260. IEEE Computer Society, (2010)