( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Fonseca, Renan"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Embedded Agent based on Cyber Physical Systems: Architecture, Hardware Definition and Application in Industry 4.0 Context.

, , , , , , , und . ICINCO (2), Seite 594-601. SciTePress, (2018)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Renan Goetz

Renan Belli

Renan Garcia

Renan Krishna

Renan Giovanini

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Embedded Agent based on Cyber Physical Systems: Architecture, Hardware Definition and Application in Industry 4.0 Context., , , , , , , und . ICINCO (2), Seite 594-601. SciTePress, (2018)Timing-Driven Placement Based on Dynamic Net-Weighting for Efficient Slack Histogram Compression., , , , , und . ISPD, Seite 141-148. ACM, (2015)A novel scheme to reduce short-circuit power in mesh-based clock architectures., , , und . SBCCI, Seite 117-122. ACM, (2008)Analysis of resistive-bridging defects in SRAM core-cells: A comparative study from 90nm down to 40nm technology nodes., , , , , , und . European Test Symposium, Seite 132-137. IEEE Computer Society, (2010)Setting test conditions for improving SRAM reliability., , , , , , und . European Test Symposium, Seite 257. IEEE Computer Society, (2010)Impact of Resistive-Bridging Defects in SRAM at Different Technology Nodes., , , , , , und . J. Electron. Test., 28 (3): 317-329 (2012)On using address scrambling to implement defect tolerance in SRAMs., , , , , , und . ITC, Seite 1-8. IEEE Computer Society, (2011)A statistical simulation method for reliability analysis of SRAM core-cells., , , , , , und . DAC, Seite 853-856. ACM, (2010)Impact of Resistive-Bridging Defects in SRAM Core-Cell., , , , , , und . DELTA, Seite 265-269. IEEE Computer Society, (2010)Detecting NBTI induced failures in SRAM core-cells., , , , , , und . VTS, Seite 75-80. IEEE Computer Society, (2010)