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Delay Testing Quality in Timing-Optimized Designs., , , und . ITC, Seite 897-905. IEEE Computer Society, (1991)Directed-Binary Search in Logic BIST Diagnostics., , und . DATE, Seite 1121. IEEE Computer Society, (2002)Test Pattern Compression Using Prelude Vectors in Fan-Out Scan Chain with Feedback Architecture., , , und . DATE, Seite 10110-10115. IEEE Computer Society, (2003)Design for Testability: The Path to Deep Submicron.. Asian Test Symposium, IEEE Computer Society, (2005)Using Logic Models To Predict The Detection Behavior Of Statistical Timing Defects., , , , , , und . ITC, Seite 1041-1050. IEEE Computer Society, (2003)Tester retargetable patterns., und . ITC, Seite 721-727. IEEE Computer Society, (2001)Changing the Scan Enable during Shift., , , , , und . VTS, Seite 73-78. IEEE Computer Society, (2004)IDDQ Test: Sensitivity Analysis of Scaling., , , , und . ITC, Seite 786-792. IEEE Computer Society, (1996)On Efficiently and Reliably Achieving Low Defective Part Levels., , und . ITC, Seite 616-625. IEEE Computer Society, (1995)Fast seed computation for reseeding shift register in test pattern compression., , und . ICCAD, Seite 76-81. ACM / IEEE Computer Society, (2002)