( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Storey, Thomas M."

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Deformations of IC Structure in Test and Yield Learning.

, , , , , und . ITC, Seite 856-865. IEEE Computer Society, (2003)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Kier Storey

Andrew Storey

Joseph Storey Rippier

Thomas M Klapötke

Thomas M Schmid

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Stuck Fault and Current Testing Comparison Using CMOS Chip Test., , , und . ITC, Seite 311-318. IEEE Computer Society, (1991)CMOS Bridging Fault Detection., und . ITC, Seite 1123-1132. IEEE Computer Society, (1990)A Test Methodology to Support an ASEM MCM Foundry., , , und . ITC, Seite 426-435. IEEE Computer Society, (1994)A Test Methodology for VLSI Chips on Silicon.. ITC, Seite 359-368. IEEE Computer Society, (1993)Testing in a high volume DSM Environment.. ITC, Seite 1422. IEEE Computer Society, (2004)A Test Methodology for High Performance MCMs., und . J. Electron. Test., 10 (1-2): 109-118 (1997)Delay test simulation., und . DAC, Seite 492-494. ACM, (1977)Deformations of IC Structure in Test and Yield Learning., , , , , und . ITC, Seite 856-865. IEEE Computer Society, (2003)