Autor der Publikation

Failure mechanisms of discrete protection device subjected to repetitive electrostatic discharges (ESD).

, , , , , , und . Microelectron. Reliab., 49 (9-11): 1103-1106 (2009)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Building-up of system level ESD modeling: Impact of a decoupling capacitance on ESD propagation., , , , und . Microelectron. Reliab., 53 (2): 221-228 (2013)RF ESD protection strategies - the design and performance trade-off challenges., , , , , , , , , und 5 andere Autor(en). CICC, Seite 489-496. IEEE, (2005)Backside Localization of Current Leakage Faults Using Thermal Laser Stimulation., , , , , , und . Microelectron. Reliab., 41 (9-10): 1539-1544 (2001)New triggering-speed-characterization method for diode-triggered SCR using TLP., , , , , und . Microelectron. Reliab., (2017)Latch-up ring design guidelines to improve electrostatic discharge (ESD) protection scheme efficiency., , , , , und . IEEE J. Solid State Circuits, 39 (10): 1778-1782 (2004)A plug-and-play wideband RF circuit ESD protection methodology: T-diodes., , , , , , , , , und . Microelectron. Reliab., 49 (12): 1440-1446 (2009)Low Frequency Noise Measurements for ESD Latent Defect Detection in High Reliability Applications., , , , , , , , und . Microelectron. Reliab., 44 (9-11): 1781-1786 (2004)Accelerated lifetime test of RF-MEMS switches under ESD stress., , , , , , , , und . Microelectron. Reliab., 49 (9-11): 1256-1259 (2009)Different Failure signatures of multiple TLP and HBM Stresses in an ESD robust protection structure., , , , , , , , und . Microelectron. Reliab., 45 (9-11): 1415-1420 (2005)Analysis and compact modeling of a vertical grounded-base n-p-n bipolar transistor used as ESD protection in a smart power technology., , , , , , , , und . IEEE J. Solid State Circuits, 36 (9): 1373-1381 (2001)