Autor der Publikation

Chip-Level Substrate Coupling Analysis with Reference Structures for Verification.

, , , und . IEICE Trans. Fundam. Electron. Commun. Comput. Sci., 90-A (12): 2651-2660 (2007)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Differential equivalent time sampling receiver for breast cancer detection., , , , , , , und . BioCAS, Seite 1-4. IEEE, (2017)Chip-Level Substrate Noise Analysis with Network Reduction by Fundamental Matrix Computation., , , , und . ISQED, Seite 482-487. IEEE Computer Society, (2001)Background Calibration Techniques for Low-Power and High-Speed Data Conversion., , , und . IEICE Trans. Electron., 94-C (6): 923-929 (2011)Substrate Noise Analysis with Compact Digital Noise Injection and Substrate Models., , , , und . ASP-DAC/VLSI Design, Seite 71-76. IEEE Computer Society, (2002)Investigation of phase noise and jitter in CMOS sampling clock generation circuits for time-domain breast cancer detection system., , , , , , , und . BioCAS, Seite 1-4. IEEE, (2017)Evaluation of Isolation Structures against High-Frequency Substrate Coupling in Analog/Mixed-Signal Integrated Circuits., , , und . IEICE Trans. Fundam. Electron. Commun. Comput. Sci., 90-A (2): 380-387 (2007)CMOS Gaussian Monocycle Pulse Transceiver for Radar-Based Microwave Imaging., , , , , , , , , und 6 andere Autor(en). IEEE Trans. Biomed. Circuits Syst., 14 (6): 1333-1345 (2020)Chip-Level Substrate Coupling Analysis with Reference Structures for Verification., , , und . IEICE Trans. Fundam. Electron. Commun. Comput. Sci., 90-A (12): 2651-2660 (2007)Shifting Clock Jitter and Phase Interval for Impulse-Radar-Based Breast Cancer Detection., , , , , , , , , und . BioCAS, Seite 1-4. IEEE, (2019)Chip-Level Substrate Noise Analysis with Emphasis of Vertical Impurity Profile for Isolation., , , und . CICC, Seite 849-852. IEEE, (2007)