Autor der Publikation

Functional test content optimization for peak-power validation - An experimental study.

, , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2012)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Multivariate outlier modeling for capturing customer returns - How simple it can be., , , und . IOLTS, Seite 164-169. IEEE, (2014)Discovering Interesting Plots in Production Yield Data Analytics., , , und . CoRR, (2018)Functional test content optimization for peak-power validation - An experimental study., , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2012)Primitive Concept Identification In A Given Set Of Wafer Maps., , , und . VLSI-DAT, Seite 1-4. IEEE, (2019)Forward prediction based on wafer sort data - A case study., , , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2011)Wafer Pattern Recognition Using Tucker Decomposition., , , und . VTS, Seite 1-6. IEEE, (2019)Deploying A Machine Learning Solution As A Surrogate., , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE, (2019)Multidimensional parametric test set optimization of wafer probe data for predicting in field failures and setting tighter test limits., , , , und . DATE, Seite 794-799. IEEE, (2011)An experiment of burn-in time reduction based on parametric test analysis., , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2012)Novel test detection to improve simulation efficiency - A commercial experiment., , , , , und . ICCAD, Seite 101-108. ACM, (2012)