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Disambiguierung von "Wang, Laung-Terng"

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A Novel and Practical Control Scheme for Inter-Clock At-Speed Testing.

, , , , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2006)

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Andy Ch Laungani

Harn-Jing Terng

Terng-Yaw Lin

Wang Wang

Linfang Wang

Investigation of the functions of 53BP1 in DNA demethylation. Uni Marburg, (2009)
 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Scan Flip-Flop Grouping to Compress Test Data and Compact Test Responses for Launch-on-Capture Delay Testing., , und . ACM Trans. Design Autom. Electr. Syst., 17 (2): 18:1-18:24 (2012)Self-Testing of Embedded RAMs., und . ITC, Seite 148-156. IEEE Computer Society, (1984)Turbo1500: Core-Based Design for Test and Diagnosis., , , , , , , , , und 5 andere Autor(en). IEEE Des. Test Comput., 26 (1): 26-35 (2009)A Novel ATPG Method for Capture Power Reduction during Scan Testing., , , , , , und . IEICE Trans. Inf. Syst., 90-D (9): 1398-1405 (2007)CTX: A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme for Reducing Yield Loss Risk in At-Speed Scan Testing., , , , , , , und . ATS, Seite 397-402. IEEE Computer Society, (2008)At-Speed Logic BIST for IP Cores., , , , , , , , und . DATE, Seite 860-861. IEEE Computer Society, (2005)Low-capture-power test generation for scan-based at-speed testing., , , , , , und . ITC, Seite 10. IEEE Computer Society, (2005)GPU-based timing-aware test generation for small delay defects., , , , , und . ETS, Seite 1-2. IEEE, (2014)Luncheon Speaker: "Introduction to SoC testing".. SoCC, Seite 256-257. IEEE, (2011)A Hybrid Design of Maximum-Length Sequence Generators., und . ITC, Seite 38-47. IEEE Computer Society, (1986)