Autor der Publikation

Diagnozer: A laboratory tool for teaching research in diagnosis of electronic systems.

, , , , und . MSE, Seite 12-15. IEEE Computer Society, (2009)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Embedded fault diagnosis in digital systems with BIST., , und . Microprocess. Microsystems, 32 (5-6): 279-287 (2008)Hierarchical Timing-Critical Paths Analysis in Sequential Circuits., , , , , und . PATMOS, Seite 1-6. IEEE, (2018)Block-Level Fault Model-Free Debug and Diagnosis in Digital Systems., , und . DSD, Seite 229-232. IEEE Computer Society, (2009)Parallel Critical Path Tracing Fault Simulation in Sequential Circuits., , , , und . MIXDES, Seite 305-310. IEEE, (2018)Synthesis of multiple fault oriented test groups from single fault test sets., , und . DTIS, Seite 98-103. IEEE, (2013)A tool set for teaching design-for-testability of digital circuits., , und . EWME, Seite 1-6. IEEE, (2016)Investigations of the diagnosibility of digital networks with BIST., , und . LATW, Seite 1-6. IEEE, (2009)Rejuvenation of nanoscale logic at NBTI-critical paths using evolutionary TPG., , , , , , , , , und 1 andere Autor(en). LATS, Seite 1-6. IEEE Computer Society, (2015)How to Prove that a Circuit is Fault-Free?, , und . DSD, Seite 427-430. IEEE Computer Society, (2012)Fast identification of true critical paths in sequential circuits., , , , und . Microelectron. Reliab., (2018)